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发表于 2015-5-11 16:57:33
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测量粉体颗粒的粒度基本原理与方法
颗粒的粒度与形状对其产品的性质与用途影响很大,因此,粒度与形状的测量非常重要。例如,水泥的强度与其细度有关,磨料的粒度和粒度分布决定其质量等级,粉碎和分级也需要对其粒度进行测量。随着纳米级材料的发展,人们对粒度测量提出了更高的要求。表1列出了颗粒粒度测量的主要方法。
* Z g& p/ O3 E- l' n! x
8 E) p8 E) y a1 H表1粒度测量的方法
. ]0 |* e4 e0 o5 b# I; M测量方法 测量装置 测量结果. Y1 C& ~: ^ d) |; y, G
直接观察法 放大投影器,图像分析仪,(与光学显微镜或电子显微镜相连),能谱仪(与电子显微镜相连) 粒度分布、形状参数
$ u7 ]: H0 E) n* X筛分法 电磁振动式,音波振动式 粒度分布直方图& x( U+ u) y6 @" A
沉降法 重力 比重计、比重天平、沉降天平
3 B% i9 d; T5 B' o/ @光透过式、X射线透过式 粒度分布
4 G. j: v4 t" i( v1 X 离心力 光透过式、X射线透过式 粒度分布0 V: C8 ~" I4 Y# w6 Z/ O0 n5 o7 ~* L
激光法 光衍射 激光粒度仪 粒度分布
3 B9 X4 f. s& Q F 光子相干 光子相干粒度仪 粒度分布
' p! `# k4 R! o' w3 v小孔透过法 库尔特粒度仪 粒度分布,个数计量# d8 }: b% h4 C9 S3 a; y
流体透过法 气体透过粒度仪 粉体的比表面积、平均粒度
% `# J" u, y* ? ^( y' N吸附法 BET吸附仪 比表面积、平均粒度
& o6 v4 I/ Y0 ` Q2 m9 ?
. n3 u- U6 p4 c K筛分法:用于粒度分布的测量已有很长的历史了,制造筛网的技术也不断提高,国外可制造小到5μm的筛网。筛分分析适用于粒径约100mm~20μm之间的粒度分布测量。筛孔大小尺寸用“目”来表示,即1英寸长度的筛网上的筛孔数表示。标准筛的规格见本书后的附录。" i& [, _$ W, C6 f' H+ W
BET吸附法:流体通过法一般采用空气,使其通过粉体料层,由空气的流速、压力差等参数计算粉体的比表面积,然后计算出粉体的平均粒径。
" F$ G7 Y* P3 \- g5 u比重计法:比重天平和沉降天平曾一度广泛地使用过。但这些仪器测量时间太长,且不适合细颗粒的测量,将逐渐被淘汰。 C$ A$ ]- K4 N
沉降法:$ y" z& `5 B. }1 p X0 ]. g
原理:当光束通过装有悬浮液的测量容器时,一部分光被反射或有吸收,一部分光到达光电传感器,将光强转变成电信号。透过光强与悬浮液的浓度或颗粒的投影面积有关。另一方面,颗粒在力场中沉降,可用斯托克斯定律计算其粒径大小,从而得到累积粒度分布。
: ]( B% J+ [$ B2 T2 \7 f$ d本文由粉体圈http://www.360powder.com/整理发布。 |
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